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PRODUCT
PILATUS4 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器
品牌:DECTRIS
产地:瑞士
型号:PILATUS4 R CdTe
产品详情

1特点

       凭借高于95%的极高量子效率,及其高达155×162毫米的极大有效面积,PILATUS4 R CdTe探测器可对基于从铜(Cu)到銦(In)的任何X射线源的快速数据收集。特别是对于钼(Mo)、银(Ag)和銦(In)辐射,PILATUS4 R CdTe的性能优于任何配有硅传感器的HPC探测器—甚至包括目前拥有最厚的硅传感器的PILATUS3。

       PILATUS4凭借出色的计数率和五探测器背景噪音的特点,实现了跨越十个数量级的广泛动态范围,高达200Hz的内部帧速,进一步优化了计数率校准,从而确保高强度测量的高度准确性。此外,PILATUS4还具备四个能量区分阈值,为劳厄衍射和光谱成像等应用带来了新的可能。


2、核心优势
     - 巨大且有效:有效成像面积高达155×162mm,量子效率超过95%
     - 最大限度的高动态范围:通过零探测器背景噪音、卓越的计数率以及同步读/写技术,实现了最大限度的高动态范围。

- 多功能性:覆盖了从铜(Cu)到銦(In)高量子效率;四个能量区分阈值适用于多色光应用。 


 3、应用领域
     - 单晶衍射
     - 小角X射线散射
     - 光谱成像
     - 劳厄衍射 


4、技术参数: 


PILATUS4   R CdTe

1M

260K

260K-W

有效面积:宽×高   [mm²]

155.0 x 162.0

77.0× 79.5

155.0 x 38.3

像素阵列

1033 x 1080

513 × 530

1033× 255

像素大小 [μm²]

150 x 150

能量范围 [keV]

8 - 25 (8 - 100)【1】

能量阈值数量

4

阈值范围 [keV]

4-30(4-80)【1】

计数率 [ph/s/pixel]

5.0 x 106

最大帧频 [Hz]

10

100

100

读出时间【2】 

连续读出

传感器材料

CdTe

传感器厚度[μm]

1000

点扩散函数

1 pixel(FWHM)

尺寸(WHD)[mm³]

235 x 237 x 372

114 x 133 x 242

192 x 92 x 277

重量 [kg]

15

4.7

5.8

                        【1】可选择校准来扩展能量范围

                        【2】两次曝光之间的有效死时间<100ns(最大损失1count/pixel)


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